| Marca: | EDX-LE |
| Existencia: | en existencia |
| Cobertura: | Republica Mexicana |
| Unidad de medida: | Piezas |
El EDX-LE es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X que fue especialmente desarrollado para la detección de elementos que caen bajo la directiva "RoHS / ELV". Este modelo utiliza un detector Si-PIN (Si-PIN Semiconductor Detector) que no requiere nitrógeno líquido, lo que reduce los costos operativos y facilita el mantenimiento. Las funciones de análisis automatizadas mejoran la usabilidad sin sacrificar su alto nivel de confiabilidad de la prueba. El tiempo requerido desde el inicio de la medición hasta el final es de aproximadamente un minuto, dependiendo de la muestra, lo cual es muy útil para inspecciones para detectar objetos que caen bajo la directiva "RoHS".
Características adicionales: Menor costo operativo, mantenimiento más fácil Proporciona funciones específicas necesarias para detectar los cinco elementos regulados por RoHS Se pueden personalizar funciones de configuración simples
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