-Transuctor de 5MHz de elemento dual con una puntilla de sonda durable tipo PEEK. Compensacion automática de trayecto en forma de V para materiales delgados. -Scan-A con ganancia ajustable y captura de pantalla. Scan-B que despliega una imagen semejante a un corte transversal del material que se evalua. -Despliega en pantalla de manera continua la cantidad de lecturas, el promedio, la desviación estándar, lecturas máxima y mínima de una secuencia de pruebas.
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