SEM de escritorio (Phenom Pro, ProX, Pure G7, XLG3, Pharos G2 FEG), SEM-EDS integrado (Axia Chemi SEM), SEM avanzado de alto rendimiento (Apreo 2 SEM), ESEM ambiental (Quattro ESEM), SEM de ultra alta resolución subnanométrica (Verios 5XHR SEM)
Garantía:
Garantía de fabricación; pólizas de mantenimiento disponible
Descripción de Microscopía electrónica de barrido (SEM):
Soluciones integrales en microscopía electrónica de barrido (SEM) para obtención
de imágenes de alta resolución y análisis de materiales en industria, academia e
investigación. El portafolio abarca desde SEM de escritorio compactos con fuente
CeB6, cámara óptica y análisis elemental integrado por EDS, hasta plataformas
avanzadas FEG-SEM y ESEM de alta resolución subnanométrica. Cubren caracterización
morfológica, análisis de fallas, control de calidad, estudio de nanomateriales y
experimentos in situ, con autoalineación y automatización que maximizan la
productividad y confiabilidad en los resultados.
Otros nombres del producto
Microscopio electrónico de barrido, SEM, ESEM, FEG-SEM, SEM de escritorio, microscopía electrónica de barrido ambiental, análisis SEM-EDS, microscopía electrónica de barrido de alta resolución, caracterización morfológica por SEM, análisis elemental por EDS, SEM-FEG, microscopía electrónica de barrido de campo, SEM para control de calidad, SEM para análisis de fallas, desktop SEM
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Phenom ProPhenom ProXPhenom Pharos G2 (FEG-SEM)Phenom XLG3Phenom Pure G7Axia Chemi SEMApreo 2 SEMQuattro ESEMVerios 5XHR SEM
Entrega
Entrega nacional; Instalación y puesta en marcha en sitio del cliente; Capacitación de operadores; Soporte técnico preventivo y correctivo; Asesoría en aplicaciones y desarrollo de métodos de análisis SEM-EDS
Características de Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Familia Phenom — SEM de Escritorio (Desktop SEM):
Phenom Pro y Phenom ProX
Resultados de alta calidad gracias a la fuente de electrones CeB6 de larga duración, alto brillo y bajo mantenimiento.
Gran estabilidad, aislamiento de vibraciones y pequeño tamaño de huella.
Tamaño de muestra admitido: 25 mm de diámetro × 35 mm de alto.
Phenom ProX: detector integrado de rayos X de energía dispersiva (EDS) para análisis elemental robusto, fácil y rápido.
Cámara óptica en color para navegación rápida y selección de área de interés.
Modo de reducción de carga para minimizar o eliminar la necesidad de recubrimiento de la muestra.
Phenom Pharos G2 (FEG-SEM)
Único SEM de escritorio con fuente de emisión de campo (FEG) que garantiza alto brillo, imágenes nítidas y corriente de haz estable.
Detectores SE, BSE y EDS integrados para obtener simultáneamente información morfológica y de composición elemental.
Gama de portamuestras para experimentos avanzados y nanomateriales.
Diseñado para analizar partículas pequeñas con alta resolución y velocidad.
Phenom XLG3
Cámara de muestra de gran formato: hasta 100 × 100 mm para piezas industriales de mayor tamaño.
Ideal para descubrir fallos y ajustar procesos de fabricación con información de calidad.
Permite automatizar el control de calidad y procesar gran volumen de muestras.
Interfaz versátil para una amplia gama de aplicaciones e industrias.
Desde análisis de componentes para baterías de última generación hasta verificación de materiales de construcción.
Phenom Pure G7
Proporciona imágenes de alta calidad con fuente CeB6 de larga duración y alto brillo.
Excelente tiempo de obtención de imagen, autoenfoque confiable y alineaciones automatizadas.
El más fácil de usar del mercado: diseño intuitivo accesible tanto para usuarios principiantes como experimentados.
Excelente relación calidad-precio para laboratorios con necesidades de imagen de rutina.
Plataformas SEM Avanzadas:
Axia Chemi SEM
Instrumento SEM-EDS flexible diseñado para análisis elemental instantáneo y cuantitativo.
El análisis químico y la imagen se adquieren de forma integrada: mapeo elemental cuantitativo directo sin pasos adicionales.
Fácil de usar y de mantener; excelente rendimiento de imagen.
Admite muestras de hasta 10 kg con desplazamiento x-y motorizado.
Apreo 2 SEM
Obtención de imágenes y análisis de materiales versátiles de alto rendimiento.
Tecnología SmartAlign™: sistema óptico de autoalineación que automatiza el ajuste fino de la imagen.
Tecnología FLASH™: correcciones automáticas de centrado de lente, estigmas y enfoque final.
Único SEM con resolución de 1 nanómetro a distancia de trabajo analítica de 10 mm.
Accesible para cualquier nivel de usuario sin sacrificar calidad de datos.
Quattro ESEM (Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental)
Permite estudiar materiales en su estado natural, sin preparación especial ni recubrimiento conductor.
Ideal para laboratorios académicos, industriales y gubernamentales con múltiples usuarios de diferentes niveles de experiencia.
Incorpora cañón de emisión de campo (FEG) para excelente resolución en modo ambiental.
Soporta experimentos in situ únicos: observación de muestras húmedas, biológicas, poliméricas o sensibles al haz.
Plataforma versátil para múltiples disciplinas en una sola solución.
Verios 5XHR SEM (Ultra High Resolution)
Caracterización de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste.
Fuente de electrones monocromática UC+ para rendimiento subnanométrico en el rango de 1–30 kV.
Alto contraste en materiales sensibles con excelente desempeño hasta 20 eV de energía de aterrizaje.
Detectores de alta sensibilidad in-column y below-the-lens para máxima detección de señal.
Ventajas de Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Portafolio escalonado para cada nivel de laboratorio: Desde el Phenom Pure G7 —el SEM de escritorio más fácil de usar del mercado— hasta el Verios 5XHR SEM con resolución subnanométrica; ISASA ofrece la plataforma adecuada para cada aplicación, usuario y presupuesto sin comprometer la calidad de imagen.
Integración SEM + EDS en un solo equipo: Los modelos Phenom ProX, Pharos G2 y Axia Chemi SEM incluyen detectores EDS integrados que permiten obtener imagen morfológica y análisis elemental cuantitativo de forma simultánea, sin necesidad de periféricos adicionales ni flujos de trabajo separados.
Tecnología FEG para imagen de alta resolución: El Phenom Pharos G2 y el Quattro ESEM incorporan fuente de emisión de campo (FEG) que garantiza alto brillo, corriente de haz estable e imágenes nítidas incluso en materiales difíciles o muestras de baja conductividad.
Autoalineación y automatización inteligente: El Apreo 2 SEM incorpora SmartAlign™ y FLASH™ para autoalineación del sistema óptico y ajuste automático de lente, estigmas y enfoque, reduciendo drásticamente el tiempo de configuración y la dependencia de la habilidad del operador.
Capacidad ESEM para muestras sin preparación: El Quattro ESEM permite analizar muestras en estado natural —húmedas, biológicas, poliméricas o no conductoras— sin recubrimiento metálico previo, preservando la integridad de la muestra y reduciendo los tiempos de preparación.
Alto volumen y automatización de control de calidad: El Phenom XLG3, con su cámara de gran formato (100 × 100 mm) y flujos de trabajo automatizados, permite inspeccionar piezas industriales de mayor tamaño y procesar grandes lotes de muestras de forma eficiente y reproducible.
Resolución de 1 nanómetro a distancia de trabajo analítica (Apreo 2): Única en su clase, esta capacidad permite obtener imágenes de detalle extremo precisamente en las condiciones de trabajo donde también se realizan análisis EDS o EBSD, sin sacrificar resolución por posicionamiento.
Menor costo y complejidad operativa: Los SEM de escritorio Phenom requieren mínimo mantenimiento, operan sin necesidad de expertos en microscopía electrónica y reducen los costos de preparación de muestra gracias al modo de reducción de carga; accesibles para laboratorios con recursos humanos o de infraestructura limitados.
Respaldo técnico local especializado: En ISASA brindamos instalación, capacitación de operadores, soporte técnico preventivo y correctivo y asesoría en aplicaciones SEM, con respuesta oportuna a nivel nacional que minimiza tiempos de paro y protege la inversión del laboratorio.
Certificaciones y cumplimiento normativo aplicables (según modelo y configuración):
ISO 16232 / VDA 19 — Análisis de partículas en componentes de sistemas de fluidos; aplicable con flujos de trabajo automatizados de conteo y clasificación en plataformas Phenom.
ASTM E766 — Calibración de magnificación en microscopía electrónica de barrido.
ASTM E1508 — Análisis cuantitativo por espectroscopía de rayos X de energía dispersiva (EDS).
ISO/IEC 17025 — El laboratorio de calibraciones de ISASA, acreditado ante la EMA bajo NMX-EC-17025-IMNC-2018, provee soporte metrológico en las magnitudes de Óptica, Masa y Eléctrica para el aseguramiento de mediciones asociadas a los sistemas SEM.
21 CFR Part 11 (FDA) — Para laboratorios farmacéuticos y biomédicos que requieren integridad y trazabilidad de datos electrónicos; compatible con software de gestión de datos aplicable según modelo.
RoHS / REACH — Análisis por EDS integrado aplicable como técnica de screening para identificación de elementos restringidos en materiales y componentes electrónicos.
Usos / Aplicaciones de Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Caracterización morfológica y microestructural:
Obtención de imágenes de alta resolución para análisis de morfología, textura superficial, rugosidad, tamaño y forma de partículas, porosidad y microestructura de materiales metálicos, cerámicos, poliméricos y compuestos.
Análisis elemental por EDS (Espectroscopía de Rayos X de Energía Dispersiva):
Determinación cualitativa y cuantitativa de la composición elemental de materiales en puntos específicos, líneas o mapas de distribución elemental. Identificación de fases, inclusiones, contaminantes e impurezas superficiales.
Análisis de fallas e inspección de defectos:
Investigación de causas raíz de falla en componentes industriales: fracturas, corrosión, desgaste, delaminación y contaminación superficial. Documentación morfológica de defectos con evidencia fotográfica de alta resolución.
Control de calidad e inspección industrial:
Verificación dimensional y superficial de componentes, inspección de recubrimientos, soldaduras, pinturas y superficies tratadas. Procesamiento de alto volumen de muestras con flujos de trabajo automatizados (Phenom XLG3).
Análisis y caracterización de partículas:
Conteo, clasificación y análisis morfológico y elemental automatizado de partículas en polvos, filtros, sedimentos y contaminantes. Aplicable en análisis de partículas conforme a normas de limpieza de componentes (ISO 16232, VDA 19).
Nanomateriales y materiales avanzados:
Caracterización de nanoestructuras, nanotubos, nanopartículas, recubrimientos delgados, materiales 2D y dispositivos microelectrónicos con resolución subnanométrica (Verios 5XHR SEM).
Estudio de materiales en estado natural — ESEM:
Observación de muestras húmedas, biológicas, poliméricas, sensibles al calor o no conductoras sin preparación previa ni recubrimiento; experimentos in situ con control de temperatura y presión (Quattro ESEM).
Aplicaciones por industria:
Metalurgia y manufactura: Análisis de microestructura, inclusiones, corrosión y fallas.
Electrónica y semiconductores: Inspección de circuitos, interconexiones, soldaduras y materiales de empaque.
Materiales de construcción: Verificación de cementos, concreto, áridos y refractarios; control de proceso.
Energía y baterías: Análisis de electrodos, separadores, materiales catódicos y ánodos en baterías de nueva generación.
Polímeros y plásticos: Morfología de mezclas, compatibilizadores, cargas y materiales compuestos.
Farmacéutica y biomédica: Caracterización de partículas activas, dispositivos médicos, implantes y materiales de liberación controlada.
Geología y geociencias: Estudio de minerales, rocas, sedimentos y fósiles; análisis de fases mineralógicas por EDS.
Investigación académica: Caracterización general para materiales, física, química, biología y nanociencias.
Medioambiental: Caracterización de partículas en muestras ambientales, microplásticos, aerosoles y suelos contaminados.
Textil y papel: Análisis de fibras, recubrimientos y acabados superficiales.
Arqueología y patrimonio cultural: Análisis no invasivo de materiales históricos, pigmentos y metales antiguos.
Certificaciones de Microscopía electrónica de barrido (SEM)
ISO 16232 y VDA 19 (análisis de partículas en sistemas de fluidos), ASTM E766 (calibración de magnificación SEM), ASTM E1508 (análisis cuantitativo por EDS), NMX-EC-17025-IMNC-2018 vía laboratorio de calibraciones ISASA acreditado ante EMA, FDA 21 CFR Part 11 (según modelo y software), RoHS/REACH (screening elemental por EDS)
¡Atención! Las opiniones expuestas se toman de las que los usuarios escribieron en el registro de Google de esta empresa. No son directamente de nuestra plataforma en Cosmos. Te sugerimos validar tú mismo esta información.
Nuestro equipo técnico puede ayudarte a seleccionar Microscopía electrónica de barrido (SEM)
ideal según tu línea de producción, velocidad y tipo de material.
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