Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
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Mínimo de venta de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores:100
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Unidad de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores:Piezas
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Tiempo de entrega de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores:about 10 working days
Descripción de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores:
SCPA038(63) series is a medium-sized one in all semiconductor test probes. Both plungers are movable. It can be applied to the tests of products which requires relatively high accuracy.
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Cobertura de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores Nacional
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De Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores somos Fabricante
Modelos de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
SCPA038(63)
Barrel / Barril de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
phosphor bronze, gold and nickel plated / bronce fosforoso, chapado en oro y níquel
Plunger / Émbolo de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
beryllium copper, gold and nickel plated / cobre de berilio, chapado en oro y níquel
Spring / Muelle de Sonda de contacto de muelle Serie SCPA038(63) para pruebas de semiconductores
SWP-A/B, gold and nickel plated / SWP-A/B, chapado en oro y níquel
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