Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37)
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Mínimo de venta de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37):100
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Unidad de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37):Piezas
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Tiempo de entrega de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37):about 10 working days
Descripción de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37):
SCPA051(37) series is a medium-sized one in all semiconductor test probes. Both plungers are movable. It can be applied to the tests of products which requires relatively high accuracy.
SCPA051(37) series is a medium-sized one in all semiconductor test probes. Both plungers are movable. It can be applied to the tests of products which requires relatively high accuracy.
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Cobertura de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37) Nacional
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De Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37) somos Fabricante
Modelos de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37)
SCPA051(37)
Barrel / Barril de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37)
phosphor bronze, gold and nickel plated / bronce fosforoso, chapado en oro y níquel
Plunger / Émbolo de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37)
beryllium copper, gold and nickel plated / cobre de berilio, chapado en oro y níquel
Spring / Muelle de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37)
SWP-A/B, gold and nickel plated / SWP-A/B, chapado en oro y níquel
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Cobertura de Sonda de prueba de semiconductores con contacto de muelle SCPA051(37) Nacional
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