Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
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Mínimo de venta de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41):100
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Unidad de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41):Piezas
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Tiempo de entrega de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41):about 10 working days
Descripción de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41):
This test probe pin SCPA031(41)-XY-57-0.9HG(BB) is 0.31 mm in barrel diameter. It could withstand the current up to 2 Amps. The typical maximal contact resistance is about 100 milliohms.
This test probe pin SCPA031(41)-XY-57-0.9HG(BB) is 0.31 mm in barrel diameter. It could withstand the current up to 2 Amps. The typical maximal contact resistance is about 100 milliohms.
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Cobertura de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41) Nacional
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De Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41) somos Fabricante
Modelos de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
SCPA031(41)
Barrel / Barril de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
phosphor bronze, gold and nickel plated / bronce fosforoso, chapado en oro y níquel
Plunger / Émbolo de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
beryllium copper, gold and nickel plated / cobre de berilio, chapado en oro y níquel
Spring / Muelle de Sonda de prueba de semiconductores con muelle de doble cara SCPA031(41)
SWP-A/B, gold and nickel plated / SWP-A/B, chapado en oro y níquel
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