• Semiconductor Test Probe Double-ended Pogo Pin SCPE015 Series / Sonda de prueba de semiconductores Pogo Pin de doble punta Serie SCPE015
Semiconductor Test Probe Double-ended Pogo Pin SCPE015 Series / Sonda de prueba de semiconductores Pogo Pin de doble punta Serie SCPE015

Centalic Technology Development Ltd.

Tiempo de Entrega: Alrededor de 10 días hábiles
Mínimo Requerido: 100
De este producto somos: Fabricante
Núm. de Serie: SCPE015
Descripción del producto:

SCPE015 es la serie más pequeña de nuestras sondas de prueba de semiconductores, ya que su diámetro exterior es de solo 0,15 mm. Se puede aplicar a las pruebas de BGA, PGA, LGA, IC, chips.

Unidad de medida: Piezas

Comentarios: Las sondas de prueba de semiconductores generalmente se denominan pines pogo de doble extremo. Los estilos de punta comunes incluyen B, J, J1, U, U1, etc. Todas las sondas son extremadamente delgadas y en miniatura, sin embargo, el requisito de precisión de prueba es muy estricto. Se aplican principalmente a los campos de pruebas de semiconductores y pruebas de frecuencia de dispositivos de comunicación, por ejemplo, las pruebas de frecuencia de teléfonos móviles, walkie-talkies, computadoras.

Cañón: bronce fosforado revestido de oro, no chapado

Parte superior de la Y (émbolo 1): aleación de paladio, no chapada

Parte superior de la Y (émbolo 2): aleación de paladio, no chapada

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