Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
-
Disponibilidad de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados:En stock
-
Mínimo de venta de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados:100
-
Unidad de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados:Piezas
-
Tiempo de entrega de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados:alrededor de 10 días hábiles
Descripción de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados:
La serie SCPA038(34) es de tamaño mediano en todas las sondas de prueba de semiconductores. Ambos émbolos son móviles. Se puede aplicar a las pruebas de productos que requieren una precisión.
La serie SCPA038(34) es de tamaño mediano en todas las sondas de prueba de semiconductores. Ambos émbolos son móviles. Se puede aplicar a las pruebas de productos que requieren una precisión.
-
Cobertura de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados Nacional
-
De Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados somos Fabricante
Modelos de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
SCPA038(34)
Barril de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
bronce fosforoso, chapado en oro y níquel
Émbolo de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
cobre de berilio, chapado en oro y níquel
Muelle de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados
SUS304, chapado en oro y níquel
-
Cobertura de Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados Nacional
-
De Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados somos Fabricante
Otros productos que vende Centalic Technology Development Ltd.
¿Necesitas una cotización personalizada?
Nuestro equipo técnico puede ayudarte a seleccionar Sondas de prueba de semiconductores SCPA038(34) chapada en oro para la inspección de circuitos integrados ideal según tu línea de producción, velocidad y tipo de material.







